ICT测试探针是用于检测半导体（IC）及电路板（PCB）性能的专用工具。以下是对ICT测试探针的具体介绍：
1. 基本概述
- 基本概念：ICT测试探针主要针对电路板上的单个元件及其连接进行检测，通过物理接触点测量电压、电流和电阻等参数，从而判断电路功能是否符合设计要求。
- 主要作用：ICT测试能够有效识别电路板上的开短路问题、元件缺失或错误以及焊接不良等问题。
2. 类型分类
- 弹簧探针：具有良好的电导性和耐用性，常用于ICT测试。
- Pogopin探针：设计紧凑、连接性能稳定，适合FCT测试。
3. 选择标准
- 间距与电流承载能力：选择探针时需考虑待测对象的间距和测试承载的电流。
- 测试运动行程与弹力：根据测试需求选择合适的弹力和行程，以确保测试的准确性和效率。
- 材料与工艺：高质量的探针通常采用特殊工艺制作并镀金，以提高导电性能和防腐蚀性能。
4. 应用领域
- 电子制造行业：包括消费电子、汽车电子、医疗设备等领域，测试探针在确保产品性能和可靠性方面起到关键作用。
- 半导体芯片测试：用于BGA、LGA、QFN等多种封装芯片的老化测试。
5.发展趋势
- 技术进步：随着电子技术的不断进步，测试探针的设计和制造也在不断创新，以满足更高的性能要求和更广泛的应用场景。
- 市场需求多样化：市场对高精度、高可靠性的测试探针需求日益增长，推动了探针技术的发展和应用范围的扩大。
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