常规的测试探针包括半导体测试探针、ICT探针、螺纹/旋转探针、界面针、夹片探针、开关探针、大电流探针、PCB探针、电池探针以及线束探针。以下是这些探针的详细介绍：
1. 半导体测试探针：这种探针通常用于晶圆或芯片的老化测试，具有非常精细的双头设计，能够适应高温、低温、高湿和高频等极端环境。
2. ICT探针：ICT在线测试针主要应用于I在线电路测试和功能测试，也称ICT和FCT测试，也是目前应用较多的一种探针。
3. 螺纹/旋转探针：这种探针设计用于测试线束或电缆块的端子，可覆盖50mil到150mil的测试间距，高电流使用时考虑采用螺纹拧入式探针。
4. 界面针：界面针是用于界面模板的信号传输，界面模板的形式包括:界面针和接触终端，确保内部、外部和指定接口中进行可靠的信号传输。
5. 夹片探针：适用于需要精确电流和电压测量的场合，如变压器和电感的测试。除了基本的测试功能外，还可以用于更复杂的电子组件测试，如接插件的性能评估。
6. 电池探针：主要用于充电产品中，通过注入模块实现电流充电，高质量的电池探头也用于摄影设备或磁性连接器。
7. 大电流探针：大电流探针是一种专门设计用于承载高电流的测试探针，其能有效地在电子测试过程中传递较高的电流，广泛应用于半导体及电路板的测试领域。
8. 开关探针：开关针适合非常多样化的应用，既可以用于部件的存在性检查，也可以用作检测打开/闭合状态的开关，以及用作过程控制的信号发射器。此外还可以对插头外壳中的接触端子进行位置确定。
9. 线束探针：线束开关测试探针介绍：主要用于汽车线束通断检测及新能源元件测试。内置开关功能的探针主要用于物体存在性测试，该探针是指通过将针头压入指定距离(开关行程)来触发内部开关，而实现通/断回路的功能，对于不需要电导通的测试，我们有绝缘头开关式探针可供选择。
10. PCB探针：PCB探针(pcbProbes)探针主要是根据线路板(PCB)板的中心距和被测点的形状而定的，PCB板上所要测试的点与点之间越近，选用探针的外径也就越细。
总之，了解不同类型测试探针的特性和应用可以帮助工程师和技术人员选择最合适的工具，以确保电子组件和系统的质量和性能。在选择探针时，应考虑其电气特性、机械耐久性及与被测设备的兼容性。
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