测试探针的行程怎么选择呢？

测试探针的行程怎么选择呢？

测试探针行程的选择方法

考虑弹簧压缩力度相关行程

在选择测试探针行程时，弹簧的压缩力度分为最大工作行程和建议工作行程是重要的考量因素。在初始位置时，测试探针不激活，当针头达到建议工作行程时，会达到额定的弹簧力度，由于探针系列不同，建议工作行程介于总行程的66% - 80%之间，在布局测试治具的时候，建议尽量采用建议工作行程，且绝对不能超过最大行程，因为超过最大行程会损坏测试治具和测试装置（电路板、元件）。

结合测试场景与对象

半导体IC测试

对于半导体IC测试使用的弹簧探针，行程的选择要确保探针顶端针头能与IC的被测点（Pad、Ball等）良好接触，尾部针头与被测基板触点接触，以实现准确传输一定电流和频率来判定被测物是否合格，行程需根据IC的封装结构、被测点的位置和高度等因素来确定，要保证探针在合理行程内能够稳定接触被测点，同时避免因行程过大损坏。

电路板（PCB）检测

电路板（PCB）探针一般与套管配合使用，用于检测电路板（光板PCB）的导通测试或已贴装器件的实物板（ICT\FCT）检测，行程的选择要考虑电路板的厚度、器件的高度以及测试时所需的接触压力等，行程过小可能导致接触不良，行程过大则可能损坏电路板或器件。

参考探针产品特性

探针系列与规格

不同系列的测试探针具有不同的行程范围和特性，例如标准行程的测试探针GKS，通过组合测试探针和针套，可以实现各种安装高度，在测试夹具中设置最佳的行程比，在选择时，需要根据具体的测试需求，参考探针产品的规格说明，选择合适行程的探针。

针头形状与行程适配

不同形状的针头在测试时所需的行程可能不同，例如01针头、04针头皇冠针头、06针头锯齿状针头，不同的针头适用于不同的测试点和测试场景，其行程要求也会有所差异。在选择针头形状的同时，要综合考虑与之适配的行程，以确保测试的准确性和可靠性 。

依据测试设备与治具

测试设备和治具的设计和性能也会影响测试探针行程的选择。测试治具的空间结构和布局可能限制了探针的最大行程，因此需要根据治具的实际情况来选择合适行程的探针，以保证探针能够在治具中正常安装和使用，同时，测试设备的精度和稳定性也要求探针行程与之匹配，以确保测试结果的准确性和一致性。