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测试探针不用材质也有不同的场景差异

156 2025-09-08 00:00:00
PCBHRH ICT测试针 测试探针 高频探针

按表面镀层划分:场景差异

探针镀层主要作用是降低接触电阻、提升耐腐蚀和耐磨性,不同镀层适配不同环境与测试需求。

镀金(Au)镀层:

接触电阻极低(≤50mΩ),化学稳定性极强(不氧化、不生锈),耐磨性较好,适合精密与高可靠性场景,比如半导体芯片、IC引脚、传感器等精密电子测试(需稳定低电阻),射频模块、5G设备等高频信号测试(减少信号衰减),工业控制设备、汽车电子等潮湿/腐蚀性环境测试(防氧化生锈),以及医疗设备、航空航天等高可靠性测试(需长期稳定)。

镀金(Au)镀层:

接触电阻极低(≤50mΩ),化学稳定性极强(不氧化、不生锈),耐磨性较好,适合精密与高可靠性场景,比如半导体芯片、IC引脚、传感器等精密电子测试(需稳定低电阻),射频模块、5G设备等高频信号测试(减少信号衰减),工业控制设备、汽车电子等潮湿/腐蚀性环境测试(防氧化生锈),以及医疗设备、航空航天等高可靠性测试(需长期稳定)。

镀镍(Ni)镀层

硬度高(可提升耐磨性),成本低于镀金,接触电阻中等(≈100-200mΩ)且能防氧化,适合低频、低精度场景,例如普通PCB板通断、插件引脚测试(对电阻要求不高),测试治具反复使用等高频插拔频次场景(靠镍提升耐磨),以及消费电子组装线等干燥、无腐蚀环境测试(无需抗强腐蚀)。

镀铑(Rh)镀层:

硬度远超金和镍,耐磨性顶级,化学稳定性强(抗硫化、抗腐蚀)且接触电阻低,适合极端与超精密场景,比如微波设备、卫星通信等超高频信号测试(需极低信号损耗),工业传感器、汽车发动机周边等极端环境测试(耐高温、高湿、含硫化物),以及半导体晶圆测试、芯片老化测试等超高频次插拔场景(需数万次耐磨)。

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