半导体探针是电子元器件检测与性能验证的核心工具，核心作用是实现精准电连接与信号传输。
核心应用场景
芯片测试：晶圆级、封装后芯片的电学参数检测，如电压、电流、电阻等。
元器件验证：半导体器件、PCB板、传感器等的导通性、稳定性测试。
微纳操作：微小电子元器件的信号探测、失效分析与修复辅助。
关键特性要求
高精度：针尖尺寸微米/纳米级，确保与微小触点精准对接。
低接触电阻：减少信号损耗，保证检测数据准确性。
高耐磨性：适应高频次测试场景，延长使用寿命。
兼容性：匹配不同元器件的引脚间距、材质与测试环境。
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