1.0探针测试针P75-H/B/D/Q2等型号属于华荣华PA75系列烧录测试针，专为测试治具设计，以下是其详细介绍：
型号及头型
P75-B1为尖头，针尖直径较细，适合测试密集排布的焊点、测试点，如BGA封装芯片的引脚间隙。
P75-D2为大圆头，头部是圆润的球形设计，表面镀金，能更好地贴合测试点，提升接触面积，不易划伤被测物体表面。
P75-H2为九爪梅花头，这种头型可以提供更稳定的接触，增加与测试点的接触可靠性。
P75-Q2为四爪头，可用于特定的测试场景，能确保与测试点良好的电气连接。
材质及性能
针管采用磷铜管镀金，具有良好的导电性和抗氧化性。
弹簧为不锈钢线，弹性好，寿命长，能保证探针在多次插拔后仍能保持稳定的弹力。
针杆材质为铍铜或SK4镀金或铑，确保了探针的强度和导电性。
其额定电流为3A，接触电阻小于50毫欧姆，接触弹力为100g，行程为2.54mm，最小植针间距为1.91mm，弹簧寿命可达100万次。
适用场景
主要应用于PCB线路板烧录测试、电子元器件功能检测、开发板调试与信号测量、自动化测试设备连接等场景，广泛应用于电子制造、硬件开发、维修检测等多个领域。
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